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Tissier, F., Bessières, J., Baro, R. (1976) Méthode de détermination rapide par diffraction électronique des faces de croissance de l'hématite. Journal of Applied Crystallography, 9 (2) 180-181 doi:10.1107/s0021889876010832

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Reference TypeJournal (article/letter/editorial)
TitleMéthode de détermination rapide par diffraction électronique des faces de croissance de l'hématite
JournalJournal of Applied Crystallography
AuthorsTissier, F.Author
Bessières, J.Author
Baro, R.Author
Year1976 (April 1)Volume9
Issue2
PublisherInternational Union of Crystallography (IUCr)
DOIdoi:10.1107/s0021889876010832Search in ResearchGate
Generate Citation Formats
Mindat Ref. ID465705Long-form Identifiermindat:1:5:465705:1
GUID0
Full ReferenceTissier, F., Bessières, J., Baro, R. (1976) Méthode de détermination rapide par diffraction électronique des faces de croissance de l'hématite. Journal of Applied Crystallography, 9 (2) 180-181 doi:10.1107/s0021889876010832
Plain TextTissier, F., Bessières, J., Baro, R. (1976) Méthode de détermination rapide par diffraction électronique des faces de croissance de l'hématite. Journal of Applied Crystallography, 9 (2) 180-181 doi:10.1107/s0021889876010832
In(1976, April) Journal of Applied Crystallography Vol. 9 (2) International Union of Crystallography (IUCr)

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